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涂层测厚仪MiniTest720/730/740
新的MiniTest700涂层测厚仪产品线,加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。
涂层测厚仪MiniTest720/730/740

产品特点

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性

-测量范围达15mm,可更换FNFN探头,供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

 

SIDSP技术-全球最新技术,智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP
是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP
即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP
探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。



MINITEST 720/730/740涂层测厚仪为什么选择SIDSP
SIDSP
探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。

 

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP-测量信号高稳定性

EPKSIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的优秀性能。

 

  

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪高精确度的SIDSP探头特征曲线
在生产过程中,EPKSIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准,但SIDSP探头不同:由于是全自动化过程,探头在50个点上进行校准,大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准,将测量错误降至最低。

 


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP探头对温度变化不敏感

在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生!


 

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择!

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP NFN型探头基体导电性补偿
由于使用了EPK特殊的自动补偿方法,SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料,如铜,钛,等等,无需特别在基体上校准仪器。


 

 

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP-未来解决方案
EPK
将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的网站进行免费的软件升级,使您的SIDSP探头总是最新版本。


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪及SIDSP
新的MINITEST 700产品线,加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位.

有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高精确度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题,而产品优质的外观是您长期价值和成功的关键,比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑,或电镀等行业。


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪增加了测量速度设置选项
MINITEST 700
可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。


 

 

 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪使用简单方便

MINITEST 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
预设选项节省您的时间和金钱
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应全球销售需要,MINITEST 700满足各种国际标准:SSPC-PA2ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840ASTM D7091(以前的D1186D1400)。



MINITEST 720/730/740涂层测厚仪优点一览:

-SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数

-读数和统计值能单独调出

-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件


MINITEST 720/730/740涂层测厚仪标准配置

带塑料手提箱,内含:

 - MiniTest720(内置探头)
-  
MiniTest730(外置探头)
-  
MiniTest740主机(不含探头,有各种探头可选)
-  
校准套装含校准片和零板
-  
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
-  
中文说明书
-  2
AA电池
-  
携带软包

 

推荐配件:

 -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架


 

技术参数

主机

主机型号

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

最多10,000

最多10,000

最多100,000

统计值

读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合国际标准和规范

ISOSSPC、瑞典标准、澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

μmmmcmmilsinchthou

操作温度

-10~60

存放温度

-20~70

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2AA电池

标准

DIN EN ISO 14612064217823602808388219840
 ASTM B244
B499D7091E376
 AS 3894.3
SS 1841 60SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(内置)/230g(外置)

 

探头

探头特性

F1.5N07FN1.5

F2

F5N2.5FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范围

小工件,薄涂层

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)

精确度

±(1μm+0.75%读值)

±(1.5μm+0.75%读值)

±(5μm+0.75%读值)

重复性

±(0.5μm+0.5%读值)

±(0.8μm+0.5%读值)

±(2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半径()

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半径
 (
凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

最小曲率半径
 (
凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

最小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

最小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下最大测量速度

每分钟70个读数

 

 


点击次数: 15   更新时间:2014-02-28  【打印此页】  【关闭